The Inspection System for Microelectronics and Semiconductor DM3 XL 마이크로일렉트로닉스 및 반도체용 검사 시스템 DM3 XL
Inspection System for Microelectronics and Semiconductor 마이크로일렉트로닉스 및 반도체용 검사 시스템
No matter if you work in metallography, medical device manufacturing or microelectronics , speed is essential. 금속학 , 의료 기기 제조 또는 마이크로일렉트로닉스 이든지, 작업 속도가 필수적입니다.
Speed matters in inspection, process control, or defect and failure analysis for the microelectronics and semiconductor industry. 마이크로일렉트로닉스 및 반도체 산업에서 검사, 공정 제어 또는 결함 및 고장 분석에서는 속도가 매우 중요합니다.
Jianbiao John Pan, PhD, is a Professor of Industrial and Manufacturing Engineering and expert in microelectronics and electronic packaging. Jianbiao John Pan 박사는 산업 및 제조 엔지니어링학과 교수이자 마이크로일렉트로닉스 및 반도체 패키징 분야의 전문가입니다.